全光譜氙燈老化試驗箱備采用能模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產品開發(fā)和質量控制提供相應的環(huán)境模擬和加速試驗。

 氙燈耐侯老化機有紫外線控制以實現(xiàn)可靠的R&D屏幕測試，通過可選擇的附件水噴霧、浸泡、冷凍擴大檢測能力，適合多平面及3D樣品，臺式設計適合所有實驗室。以氙燈做光源，可以地模擬全光譜太陽光，并適當控制溫度、濕度使在樣品上周期性的產生降水，來全面獲得陽光潮濕及溫度對高分子材料的破壞影響結果（材料老化包括褪色、失光、強度降低、開裂、剝落、粉化和氧化等）。

 氙燈按光源可以分為風冷式、水冷式，試驗參照標準：GB/T 2424.14-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 太陽輻射試驗導則、GB/T 2423.24-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗 試驗Sa：模擬地面上的太陽輔射。

全光譜氙燈老化試驗箱用途：豪恩系列水冷式氙燈試驗機采用能模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產品開發(fā)和質量控制提供相應的環(huán)境模擬和加速試驗。 SN型氙燈試驗箱可用于新材料的選擇、改進現(xiàn)有材料或評估材料組成變化后耐用性的變化試驗，可以很好的模擬在不同環(huán)境條件下，材料暴露在陽光下所產生的變化。

滿足標準：GB2423-24-1995、GB2424.14-1995、ISO 4892-2:2006、ISO 11341-2004、ASTM G155-05a、ASTM D2565-99、ASTM D4459-06、ASTM D6695-03b

設備主要特點：

4.1 通風冷卻裝置：試驗箱溫度通風冷卻系統(tǒng)由溫控儀自動控制，箱內采用制冷系統(tǒng)降溫。

4.2 控制黑板溫度計采用有線傳輸技術，有效提高了控制精度。

4.3 采用光纖傳輸測量氙燈輻射強度，避免因溫度原因導致測量值誤差的問題。

4.4 在試樣架上安裝了黑板溫度計BPT或黑標準溫度計BST.

4.5 裝置:為了記錄每次試驗工作時間，設備在操作面板上設有定時器，可對設備時間進行控制，定時結束設備即自動關閉。

4.6 保護裝置:為了使氙弧燈能正常工作，不致?lián)p壞，開門氙燈自動熄滅，全機停止工作的保護設施。

標準尺寸可選：

風冷氙燈標準內部尺寸：

LQ-XD-80A   內部尺寸：W(400)mm × H(500)mm × D(400)mm

LQ-XD-150A  內部尺寸：W(500)mm × H(600)mm × D(500)mm

LQ-XD-225A  內部尺寸：W(600)mm × H(750)mm × D(500)mm

LQ-XD-448A  內部尺寸：W(800)mm × H(700)mm × D(800)mm

LQ-XD-512A  內部尺寸：W(800)mm × H(800)mm × D(800)mm

LQ-XD-800A  內部尺寸：W(1000)mm × H(800)mm × D(1000)mm

水冷氙燈標準內部尺寸：

LQ-XD-512B  內部尺寸：W(800)mm × H(800)mm × D(800)mm

外箱尺寸：根據實際尺寸來決定。